在物理實(shí)驗(yàn)中,對物理量進(jìn)行多次測量,有的是為了通過多次測量減小誤差,有的是為了通過多次測量尋找規(guī)律。下面四個(gè)實(shí)驗(yàn)中,哪個(gè)是通過多次測量減小誤差的( )
【考點(diǎn)】多次測量 普遍性.
【答案】D
【解答】
【點(diǎn)評】
聲明:本試題解析著作權(quán)屬菁優(yōu)網(wǎng)所有,未經(jīng)書面同意,不得復(fù)制發(fā)布。
發(fā)布:2024/10/16 13:0:2組卷:4引用:2難度:0.7
相似題
-
1.多次實(shí)驗(yàn)是科學(xué)研究中常見的做法,但目的略有不同。在“伏安法”測電阻實(shí)驗(yàn)中就需要用到多次實(shí)驗(yàn)。下列四個(gè)實(shí)驗(yàn)中,多次實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c“伏安法”測電阻相同的是( ?。?/h2>
A.
平面鏡成像規(guī)律B.
探究杠桿平衡條件C.
測量物體長度D.
探究入射角與反射角關(guān)系發(fā)布:2024/7/25 8:0:9組卷:4引用:0難度:0.8 -
2.以下探究中多次實(shí)驗(yàn)的目的與其它三個(gè)明顯不同的是( ?。?/h2>
A.電流與電壓的關(guān)系 B.電流與電阻的關(guān)系 C.伏安法測電阻 D.研究小燈泡電阻 發(fā)布:2024/9/15 3:0:8組卷:9引用:1難度:0.8